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微型三角度光澤儀 μ
光澤和厚度測量集于一身

高效的涂裝工藝是使用盡可能少的涂料來達到客戶要求的質(zhì)量規(guī)格。光澤和厚度是評估涂層質(zhì)量的重要參數(shù)。微型三角度光澤儀 μ 可在幾秒內(nèi)在同一個測量點上測量這兩個參數(shù)，不僅節(jié)省時間而且在現(xiàn)場使用也十分理想 - 僅需攜帶一臺儀器。

根據(jù)標準，以特定折光指數(shù)（通常為： 1.567）的黑色玻璃標準板的反射值為100光澤單位。反射儀通常有多個不同入射角度的光源結(jié)構(gòu)。標準的角度是20º， 60º和85º。

涂料，油漆，塑料以及類似材料：

根據(jù)以下不同領(lǐng)域的應用使用不同的測量角度：
中光澤表面使用60º測量角，測量范圍在10到70GU（光澤單位）范圍內(nèi)。
對于用60º測量度數(shù)超過70GU的高反射表面，需使用20º測量角測量。
對于用60º測量度數(shù)超過10GU的粗糙的表面，需使用85º測量角測量。

陽極電鍍鋁和其它金屬表面：

儀器具有更大的測量范圍用于測量非常高光澤的樣品。
非金屬材料表面的反射率會隨入射角加大而提高，金屬的反射特性并不于此相似。因為有二次反射，即一部分光被涂層表面反射，另一部分被底部的金屬反射。為了得到這些表面的全部反射特性，建議在他們上面測量全部的角度。除了可以查看以黑色玻璃標準板為參考的（ GU 光澤單位）， 還能以金屬領(lǐng)域內(nèi)的反射光的數(shù)量為參考的 % （反射率）。您能在標尺菜單中進行選擇。
注釋：正確的測量只能在平整的表面進行。
不能在有灰塵，劃傷或在測試樣板彎曲的部位進行測量，如需測量也只能通過測量光澤平均值的方法度量樣品的損壞程度。此外由于測試樣品的表面不均質(zhì)，測量的光澤不是恒定。故只能在樣品
的不同部位進行測量并計算標準偏差。如果樣品具有明顯的結(jié)構(gòu)或光澤的特性具有方向性，這種結(jié)構(gòu)特性和入射光的方向必須在測試報告中注明。例如一些需要測量多次才能通過審核（例如：風化樣品）的樣品必須在樣品上標注記號以確保每次在相同的點測量，使測量具有重復性。

膜厚測量：

膜厚探頭的功能是根據(jù)電磁感應方式（Fe）或電渦流方式（NFe）。 因此測量結(jié)果在高磁場或電磁波的環(huán)境下產(chǎn)生偏差。測量的膜厚受到磁性（ Fe）或非磁性（NFe）金屬基材厚度的影響。測量結(jié)果還會受到諸如復合物或底材熱處理的影響發(fā)生偏差。應此推薦在沒有涂層的產(chǎn)品上進行零點校準后再進行樣品測量。對于粗糙的表面也會影響涂層厚度的測量。為了降低隨機誤差，建議使用多點測量法。
如果是在附有非磁性金屬層的磁性基材（例如：鍍鋅鐵板）上測量涂層膜厚，請注意以下幾點：
● 用于NFe設(shè)置，基材厚度至少50µm。（ 例如非磁性涂層）
● 用于Fe設(shè)置，非磁性涂層厚度已包含在測量結(jié)果中。