菲希爾涂層測(cè)厚儀Dualscope FMP20
膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀,分為手持式和臺(tái)式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理是,利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
德國(guó)費(fèi)希爾膜厚儀是德國(guó)制造,中國(guó)市場(chǎng)上應(yīng)用較為廣泛的一個(gè)品牌,由于其精度高,質(zhì)量高,測(cè)量穩(wěn)定,廣泛應(yīng)用于*,實(shí)驗(yàn)室和汽車航天制造工業(yè)中,篤摯儀器是德國(guó)菲希爾fischer 的正規(guī)代理商,主要代理供應(yīng)便攜式測(cè)厚儀,小型手持式膜厚測(cè)試儀及庫(kù)侖測(cè)試儀等,歡迎留言或在線**!
費(fèi)希爾膜厚測(cè)試儀DualScope FMP20主要特點(diǎn)介紹
主要特點(diǎn):
● 根據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對(duì)涂層進(jìn)行非破壞性測(cè)量LI>
● 自動(dòng)識(shí)別基材(FMP40)
● 可存儲(chǔ)高達(dá)20,000個(gè)數(shù)據(jù)
● 可建立多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式
● 數(shù)據(jù)多可分為 4000個(gè)數(shù)據(jù)組
● 以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地表現(xiàn)測(cè)量結(jié)果
● 可以輸入過程公差極限并計(jì)算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk
● 當(dāng)超出公差極*,有聲音和視覺警告信號(hào)
篤摯儀器代理供應(yīng)的德國(guó)菲希爾膜厚儀FMP20提供的電腦軟件FISCHER DataCenter具有以下功能: 傳輸和保存測(cè)量值,全面的統(tǒng)計(jì)和圖形化評(píng)估,簡(jiǎn)便生成并打印個(gè)人檢測(cè)報(bào)告
典型應(yīng)用領(lǐng)域:
§汽車工業(yè)
§涂料制造與加工
§實(shí)驗(yàn)室
§檢測(cè)機(jī)構(gòu)
§航空工業(yè)
菲希爾FISCHER DELTASCOPE FMP30電磁感應(yīng)涂層測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù):
型號(hào)
鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層
鋼和鐵上的油漆、瓷漆或塑料涂層
數(shù)據(jù)儲(chǔ)存
設(shè)置不同的應(yīng)用程序
分組
Cp和CPK圖表顯示
電源
DELTASCOPE FMP10
可以
可以
可以存儲(chǔ)1000個(gè)
不可以
不可以
不可以
電池
DELTASCOPE FMP30
可以
可以
可以存儲(chǔ)20000個(gè)
可以設(shè)置100個(gè)
可分4000組
可以
交流電或電池
訂購(gòu)信息:
產(chǎn)品名稱
舊型號(hào)
新型號(hào)
主要功能和特性
涂層測(cè)厚儀
MP0
MP0
兩用型,范圍0-2000um,精度±1um,存儲(chǔ)功能
涂層測(cè)厚儀
MPO USB
MPO USB
帶USB輸出
涂層測(cè)厚儀
MP10E
FMP10
兩用型,選配探頭,無存儲(chǔ)功能
涂層測(cè)厚儀
MP20E-S
FMP20
兩用型,選配探頭,有存儲(chǔ)功能
涂層測(cè)厚儀
MP30E-S
FMP30
兩用型,選配探頭,存儲(chǔ)功能,統(tǒng)計(jì)計(jì)算,RS232,打印接口
涂層測(cè)厚儀
MP40E-S
FMP40
兩用型,選配探頭,存儲(chǔ)功能,統(tǒng)計(jì)計(jì)算,RS232,打印接口
兩用探頭
ED10
兩用探頭,測(cè)量范圍0-800/1300um;精度0.2um+1%
渦流探頭
ETA-3.3H
渦流探頭,測(cè)量范圍0-1200um.精度0.25+0.5%
渦流探頭
EAI3.3-150
探針式渦流探頭,測(cè)量范圍0-800um.精度0.1um+0.5%
渦流探頭
ETA-3.3-Cu-MP
鍍銅
磁性探頭
EGAB 1.3
磁性探頭,測(cè)量范圍0-2000um,精度0.5um+0.5%
磁性探頭
EGA 1.3
磁性探頭,測(cè)量范圍0-1500um,精度0.25um+0.5%
磁性探頭
EGABI 1.3-150
針式磁性探頭,測(cè)量范圍0-1000um.精度0.5um+1%
磁性探頭
VIEGA1HR34
磁性延長(zhǎng)桿探頭,測(cè)量范圍0-1000um,精度0.5+1%