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*費希爾x-ray xan x射線熒光測量儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金,分析儀器，測量方向從下到上。用途廣泛。測量室全封閉，可以使用大準(zhǔn)直器分析，高計數(shù)率也可以被硅漂移探測器處理。激發(fā)和輻射檢測方式與XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物質(zhì)痕量分析的理想儀器.X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內(nèi)可同時測定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。

產(chǎn)品特點：

   ?  菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計；
   ?  配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
   ?  配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復(fù)雜的多元素分析
   ?  由下至上的測量方向，可以*簡便地實現(xiàn)樣品定位

  應(yīng)用實例

所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點是具有出色的精度和長期穩(wěn)定性。重新校準(zhǔn)的必要性大大降低，節(jié)省了時間和精力。現(xiàn)代硅漂移探測器實現(xiàn)了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數(shù)法允許在不進行校準(zhǔn)的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導(dǎo)體探測器組件位于儀器的下部，因此測量方向從樣品下方開始，樣品由透明窗口支撐。

珠寶和手表行業(yè)金和貴金屬分析

測量黃金珠寶

合金分析: CuNiZn檢測

典型應(yīng)用領(lǐng)域包括

        ?  珠寶、貴金屬和牙科合金
        ?  黃白色黃金
        ?  鉑和銀
        ?  銠
        ?  合金和涂層分析
        ?  多層涂層分析

FISCHERSCOPE XAN 220 X射線熒光分析儀主要參數(shù)：

預(yù)期用途....................... 能量色散X射線測量儀（ED XRF）用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。
元素范圍....................... 硫S（16）至鈾U（92）–同時多達(dá)24種元素
重復(fù)性....................... 對于金≤0.5‰，測量時間60秒
設(shè)計....................... 臺式單元，帶有向上打開的罩
測量方向....................... 自下而上
X射線管....................... 帶鈹窗的微焦點鎢管
高電壓....................... 3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;*大陽極電流：1 mA
光圈（準(zhǔn)直儀）....................... Ø 1 mm (39 mils), 可選Ø 2 mm (79 mils) or Ø 0.6 mm (23.6 mils)
測量點....................... Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放樣品（測量距離0毫米）