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  • 菲希爾(Fischer)MMS PC2多功能模塊測(cè)厚儀

    菲希爾(Fischer)MMS PC2多功能模塊測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE MMS PC2具有數(shù)據(jù)采集和測(cè)量數(shù)據(jù)處理能力,是一臺(tái)結(jié)構(gòu)小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測(cè)量系統(tǒng)。它既可以用來進(jìn)行手動(dòng)的樣品來料檢驗(yàn),也可以用于過程控制和對(duì)產(chǎn)品線進(jìn)行24小時(shí)地監(jiān)控。

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  • 涂鍍層厚度/電導(dǎo)率/孔銅等多功能測(cè)試儀

    涂鍍層厚度/電導(dǎo)率/孔銅等多功能測(cè)試儀 使用一臺(tái)儀器就可同時(shí)完成鍍層厚度測(cè)量和材料性能測(cè)試。FISCHERSCOPE MMS PC2具有數(shù)據(jù)采集和測(cè)量數(shù)據(jù)處理能力,是一臺(tái)結(jié)構(gòu)小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測(cè)量系統(tǒng)。可以測(cè)涂鍍層厚度,非鐵磁性金屬的電導(dǎo)率測(cè)量,多層板上表面銅鍍層的厚度等。

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  • 微電腦多功能電解測(cè)厚儀 CMS2 /CMS2 STEP

    微電腦多功能電解測(cè)厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架(例如:STEP測(cè)量槽) 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu); 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試。

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  • 多功能電解質(zhì)測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2

    多功能電解質(zhì)測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測(cè)量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之-一,庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu),當(dāng) 允許破壞性測(cè)量時(shí),它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)

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  • cms2-step微電腦多功能電解測(cè)厚儀

    cms2-step微電腦多功能電解測(cè)厚儀 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易行的電化學(xué)分析方法,可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量,但它也適用于檢測(cè)印刷電路板上剩余純錫的厚度。

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  • 費(fèi)希爾FischerScope MMS 多功能測(cè)厚儀

    費(fèi)希爾FischerScope MMS 多功能測(cè)厚儀 ??FISCHERSCOPE MMS可在各個(gè)地方使用質(zhì)量是重中之重:在進(jìn)貨檢驗(yàn)中,在后期檢驗(yàn)中,在進(jìn)行中的生產(chǎn)過程中進(jìn)行抽樣檢查或常規(guī)檢查。各個(gè)行業(yè)都是如此。

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  • 多能測(cè)厚儀FischerScope MMS PC2德國(guó)菲希爾

    多能測(cè)厚儀FischerScope MMS PC2德國(guó)菲希爾 適合于無損,高精度的鍍層厚度測(cè)量及材料測(cè)試。

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  • 尼克斯QNix 8500多功能涂層測(cè)厚儀

    尼克斯QNix 8500多功能涂層測(cè)厚儀 QNix 8500可以準(zhǔn)確測(cè)量鋼鐵基材以及鋁,鋅,銅,黃銅和不銹鋼等非磁性金屬基材的鍍層厚度。 該儀表具有可互換探頭的模塊化系統(tǒng)。此外,您將受益于與PC的雙向無線通信,多種校準(zhǔn)選項(xiàng)和可配置的語言設(shè)置。

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  • 微電腦多功能電解測(cè)厚儀配置說明

    微電腦多功能電解測(cè)厚儀配置說明 該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。

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  • 微電腦多功能電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2

    微電腦多功能電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2 德國(guó)FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫(kù)倫法測(cè)厚儀-----根據(jù)庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。

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  • 費(fèi)希爾多功能電解測(cè)厚儀基本款

    費(fèi)希爾多功能電解測(cè)厚儀基本款 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。

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  • Linear Height518系列多功能高度儀(2D型)

    Linear Height518系列多功能高度儀(2D型) -----分辨率/重復(fù)精度為0.1 Nm/0.4Nm時(shí),精度可高達(dá)(1.1+0.6U600) Nmo -----確保垂直度(前部)達(dá)印m直線度達(dá)4Nmo -----全/半空氣浮動(dòng)系統(tǒng)可調(diào)節(jié)氣墊高度。 -----帶有基本統(tǒng)計(jì)功能,另外,通過RS-232C數(shù)據(jù)輸出與帶有SPC軟件的電腦相連,可實(shí)現(xiàn)外部測(cè)量數(shù)據(jù)評(píng)沽。

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  • 微電腦多功能電解測(cè)厚儀STEP

    微電腦多功能電解測(cè)厚儀STEP 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

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  • 泰勒.霍普森surtronic s128多功能粗糙度儀

    泰勒.霍普森surtronic s128多功能粗糙度儀 新型Surtronic S-100系列儀器能夠?yàn)槟拇植诙葴y(cè)量需求提供多種解決方案,包括多樣化的系統(tǒng)和應(yīng)用相關(guān)配件,并且能夠針對(duì)特殊應(yīng)用的配件定制工裝。

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  • PHASCOPE PMP10菲希爾多功能測(cè)厚儀探頭介紹

    PHASCOPE PMP10菲希爾多功能測(cè)厚儀探頭介紹 PHASCOPE PMP10用于印刷線路板上的校準(zhǔn)需要一塊銅基準(zhǔn)板以及校準(zhǔn)板。數(shù)據(jù)能夠在選配的打印機(jī)上輸出。菲希爾Fischer PHASCOPE PMP10涂層測(cè)厚儀金屬鍍層在鐵,非鐵金屬或非導(dǎo)電部件上的厚度測(cè)量

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  • FLIR E75紅外熱像儀

    FLIR E75紅外熱像儀 FLIR從手柄著手對(duì)Exx系列紅外熱像儀進(jìn)行了重新設(shè)計(jì),旨在提供任何手QIANG式握柄熱像儀具有的Z佳性能、分辨率與靈敏度。

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  • Fluke TiS60 多功能紅外熱像儀

    Fluke TiS60 多功能紅外熱像儀 通過專有的 IR-Fusion® 融合和 PIP 模式快速找出問題 – 捕捉所需細(xì)節(jié)以分析問題并清楚識(shí)別所在位置

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  • EQUOTIP 550多功能里氏硬度計(jì)工作原理

    EQUOTIP 550多功能里氏硬度計(jì)工作原理 瑞士PROCEQ全新一代Equotip 550便攜式硬度測(cè)量?jī)x器,使用里氏 Leeb 和便攜試洛氏Portable Rockwell 進(jìn)行硬度檢測(cè);瑞士PROCEQ全新一代Equotip 550便攜式硬度測(cè)量?jī)x器觸摸屏裝置,*功能,Equotip550備有互動(dòng)向?qū)?根據(jù)特定行業(yè)應(yīng)用精心設(shè)計(jì)以增強(qiáng)數(shù)據(jù)可靠性確保準(zhǔn)確測(cè)量.特殊的功能是自動(dòng)組合測(cè)量方法。

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  • QuintSonic 7超聲波測(cè)厚儀多功能

    QuintSonic 7超聲波測(cè)厚儀多功能 QuintSonic超聲波涂層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x,特別設(shè)計(jì)用于涂料,清漆,塑料和其他應(yīng)用于木材,塑料,玻璃,陶瓷等的絕緣涂層以及金屬上的聚合物層的無損涂層厚度測(cè)量。到目前為止,這些材料只能被破壞性地測(cè)量。

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  • Equotip Piccolo 2多功能里氏硬度計(jì)

    Equotip Piccolo 2多功能里氏硬度計(jì) Equotip Piccolo 2適合用于金屬制造和加工過程中的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,應(yīng)用于材料的挑選、驗(yàn)收和質(zhì)量控制的測(cè)試、非常適合用于對(duì)重型和大型的部件進(jìn)行生產(chǎn)水平測(cè)試,方便用于難進(jìn)入或空間有限的測(cè)試場(chǎng)地,也能用于曲面樣品的表面。

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